CS et amplificateurs. Il s`agit d`une plate-forme évolutive et fiable permettant aux chimistes de faire de grandes découvertes en moins de temps. Plusieurs ensembles d`échantillons de N peuvent être obtenus, et la moyenne effectuée sur les points d`échantillonnage correspondants, afin de réduire les effets du bruit et de la gigue. Pour les signaux à faible bruit de phase, l`incertitude temporelle équivalente mesurée de cette façon sur la SVT NIST était inférieure à 10 PS (crête). En septembre 1974, un atelier a été organisé à l`installation de NBS Gaithersburg afin d`identifier les besoins de métrologie critiques associés à l`instrumentation électronique moderne. Hz. La trace inférieure de la figure 35 (b) est la réponse en fréquence du système composite Step Generator-SVT. Les temps d`échantillonnage, TK, ne sont pas synchronisés avec la période (i. En déplaçant progressivement la phase du signal sinusoïdal d`entrée par rapport à l`impulsion de déclenchement, on obtient un enregistrement dans lequel les erreurs de base temporelle sont décalées par rapport à la phase de l`onde sinusoïdale. VP/√ 2 [28]. Pour fournir une source de courant alternatif transportable pour ces voltmètres à une précision de ± 10 ppm sur une plage de 30 Hz à 15 kHz, une source de synthèse numérique (DSS) utilisant la reconstruction de la cale de commande zéro a été développée [31].

Comme les ADCs haute résolution (> 12-bit) dans la plupart des applications sont précédés d`un multiplexeur analogique ou d`un amplificateur S/H, l`exercice de l`entrée du connecteur ADC avec une étape de tension de stabilisation rapide donne une bonne représentation des conditions d`entrée dynamiques pendant l`utilisation réelle. La plage des paramètres d`angle de phase utilisés pour ces parcelles est le 5 de base. Vraiment j adhéré This site, et je voudrai encore que je iscère plus d aide pour réussir le BAC cet année. Ces cours sont très curriculum vitae et permettent une compréhension globale des concepts étudiés. La figure 6 donne quelques-uns des diagrammes de signaux et de minutage associés à cette méthode d`essai, où l`étape passe au niveau d`impulsion programmé et le retour au niveau de transition sont effectués entre les conversions, avec le temps (ΔT) autorisé pour le temps de décantation spécifié du ADC de test . Les paires de données d`amplitude de 16 bits correspondantes sont ensuite entrées simultanément sur les deux DAC à l`aide de verrous (non représentés). La précision de mesure de la tension RF RMS de ce système s`est montrée comparable à celle des normes de convertisseur de tension thermique [42]. Les simulations ont montré que pour N = 64, M = 12, 97% des incréments de phase possibles seront inférieurs ou égaux à 0. La caractérisation de la performance des dispositifs de stimulus et de mesure électroniques continue d`être un défi à mesure que la technologie de test change. Non-linéarité différentielle des sorties de tension et de courant autour de 120 V et 5 A RMS.

L`aide du Dr si le facteur 1 − k ou 1 + k dans les exposants n`est pas un multiple de N, la sommation correspondante est zéro; par conséquent, CK = 0 si ni 1 − k ni 1 + k est un multiple de N. Ainsi, les formes d`onde qui sont sorties des deux DAC ressemblent à celles de la figure 9.

SHARE IT:

Related Posts

Comments are closed.